您当前的位置:
首页 >
文章列表页 >
体效应对超深亚微米SOI器件总剂量效应的影响
体效应对超深亚微米SOI器件总剂量效应的影响
The Impact of Body Effect on TID of Ultra Deep Sub Micron SOI Devices
- 电子学报 2019年47卷第5期 页码:1065-1069
DOI: 10.3969/j.issn.0372-2112.2019.05.013
移动端阅览
HTML全文
参考文献
出版信息
数据统计
123
浏览量
357
下载量
2
CSCD
文章被引用时,请邮件提醒。
提交
工具集
- BibTeX下载
- Endnote下载
- RefMan 下载
- NoteExpress下载
- NoteFirst下载
相关文章
绝缘体上硅功率半导体单芯片集成技术
基于TCAD的绝缘体上硅器件总剂量效应仿真技术研究
包含绕包铝箔屏蔽的数据线缆信号完整性解析方法
应急场景无人机辅助实时视频传输联合优化策略
一种加载介质钉层的宽角低扫描损耗毫米波双极化相控阵
相关作者
苏巍
张森
何乃龙
盘成务
马杰
孙伟锋
刘斯扬
张龙
相关机构
东南大学国家ASIC工程研究中心
华润上华科技有限公司
电子元器件可靠性物理及其应用技术国家级重点实验室, 工业和信息化部电子第五研究所
东南大学国家ASIC工程研究中心
华润上华科技有限公司

