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半导体器件内离子有效LET值测量方法研究
半导体器件内离子有效LET值测量方法研究
Study of Measurement of the Ion Effective LET in Semiconductor Devices
- 电子学报 2018年46卷第10期 页码：2546-2550
DOI： 10.3969/j.issn.0372-2112.2018.10.032
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