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纳米级CMOS集成电路的单粒子效应及其加固技术
纳米级CMOS集成电路的单粒子效应及其加固技术
Single Event Effect and its Hardening Technique in Nano-scale CMOS Integrated Circuits
- 电子学报 2018年46卷第10期 页码：2511-2518
DOI： 10.3969/j.issn.0372-2112.2018.10.027
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