您当前的位置:
首页 >
文章列表页 >
怀疑度计算公式受偶然正确性影响理论分析
怀疑度计算公式受偶然正确性影响理论分析
Theoretical Analysis on Fault Localization Formulas by Coincidental Correctness
- 电子学报 2018年46卷第6期 页码:1365-1370
DOI: 10.3969/j.issn.0372-2112.2018.06.013
移动端阅览
HTML全文
参考文献
出版信息
数据统计
218
浏览量
730
下载量
0
CSCD
文章被引用时,请邮件提醒。
提交
工具集
- BibTeX下载
- Endnote下载
- RefMan 下载
- NoteExpress下载
- NoteFirst下载
相关文章
面向有效错误定位的偶然正确性识别方法
基于冗余覆盖信息约简的软件缺陷定位方法
基于Chameleon聚类分析的多错误定位方法
一种基于最弱前置条件的软件错误定位算法
面向扇出型晶圆级封装的芯片间RDL布线算法
相关作者
钱俊彦
薛猛
王兴亚
姜淑娟
曹鹤玲
郑丽伟
陈翔
岳雷
相关机构
桂林电子科技大学广西可信软件重点实验室
桂林电子科技大学广西可信软件重点实验室
南通大学计算机科学与技术学院
北京信息科技大学计算机学院
黑龙江工程学院计算机科学与技术学院

