基于三维芯片热驱动的扫描测试策略

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基于三维芯片热驱动的扫描测试策略

科研通信 | 更新时间：2025-07-16

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- 基于三维芯片热驱动的扫描测试策略
- Three Dimensional ICs Thermal-Driven Test Application Scheme
- 神克乐，向东
- 电子学报 2013年41卷第6期页码：1202-1206
- 作者机构：
  1. 清华大学计算机系,北京,100084
  2. 清华大学软件学院,北京,100084
  3. 清华大学计算机系,北京,100084
  4. 清华大学软件学院,北京,100084
- 作者简介：
- 基金信息：
  国家自然科学基金 (No.60425203,No.60910003,No.61170063);国家高技术研究发展计划 (863计划) (No.2009AA01Z129)
- DOI： 10.3969/j.issn.0372-2112.2013.06.025
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