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片上栅氧经时击穿失效监测电路与方法
片上栅氧经时击穿失效监测电路与方法
An On-Chip Circuit for Monitoring Failure Due to TDDB
- 电子学报 2012年40卷第11期 页码：2188-2193
DOI： 10.3969/j.issn.0372-2112.2012.11.008
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