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基于缺陷均匀分布的集成电路制造成品率与可靠性之间的关系模型
基于缺陷均匀分布的集成电路制造成品率与可靠性之间的关系模型
A Relation Model Between Integrated Circuit Yield and Reliability Based on the Defect’s Uniform Distribution
- 电子学报 2012年40卷第8期 页码：1665-1669
DOI： 10.3969/j.issn.0372-2112.2012.08.027
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